IGBT模块的恒温恒湿测试主要依据其应用环境和可靠性标准进行,核心目的是验证器件在特定温湿度条件下的性能稳定性和长期可靠性。根据公开资料,测试主要遵循工业环境标准,并重点关注避免凝露和水分侵入导致的失效。
IGBT模块的恒温恒湿测试通常依据 IEC 60721-3-3 标准中定义的 3K22 环境条件进行。该标准适用于温度可控但湿度不可控的工业环境,如变频器、伺服驱动器等典型应用场景。

具体的测试条件如下:
温度范围:通常覆盖 5°C 至 40°C。
相对湿度:要求在 5% 至 85% 之间,且严禁出现凝露现象。
绝对湿度:最高值不超过 25 g/m³。
测试过程中,需要模拟IGBT模块在实际使用中可能遇到的温湿度循环,例如:
在高温高湿环境下(如40°C, 85% RH)保持一定时间,以检验封装材料的防潮性能和绝缘强度。
进行温度循环(如-40°C至150°C)并结合湿度,以评估芯片、焊点和封装层在热应力下的可靠性,防止因热疲劳或分层导致的失效。
值得注意的是,IGBT模块本身并非完全密封,水汽可能通过外壳间隙或硅胶进入内部。因此,恒温恒湿测试不仅是对工作环境的模拟,更是对封装工艺(如干燥、固化)有效性的验证。制造环节中使用的高温真空干燥箱(150°C–200°C,真空度10–1000Pa)正是为了在封装前彻底去除水分,避免后续使用中因水分残留引发的分层和绝缘下降问题。
IGBT模块的恒温恒湿测试以 IEC 60721-3-3 的 3K22 条件为核心,重点验证其在工业环境下的抗湿热能力,并与制造工艺中的干燥工序共同保障器件的长期可靠性。